iPhone Duo thất bại trong bài thử độ bền chống bụi của JerryRigEverything
iPhone Duo Fails JerryRigEverything's Dusty Durability Test
Tóm tắt nhanh
- JerryRigEverything thử nghiệm iPhone Duo và phát hiện bụi xâm nhập qua nhiều khe ở bản lề dù máy có chuẩn IP68.
- Bụi làm cho nam châm giữ máy đóng bị quá tải, sau đó bài uốn tạo vết xanh vĩnh viễn trên màn hình trong và màn hình trở nên không phản hồi.
- Mặt kính ngoài với Ceramic Shield 2 cào được ở cấp 7 Mohs, còn màn hình trong chỉ đạt cấp 2 nhưng lớp nano-texture làm vết xước “biến mất” một phần.
- Nelson nói ông đã thử các máy gập từ thế hệ đầu bảy năm trước và hầu hết sống sót; iPhone Duo là trường hợp không đạt.
Tóm tắt tự động bằng AI từ bài gốc, có thể có sai sót. Hãy kiểm chứng ở bài gốc.
Trích đoạn bài gốc
Apple's iPhone Duo has failed JerryRigEverything's latest durability test. Despite its IP68 dust-resistance rating, dust entered the hinge through several ingress points, overwhelming the magnets that hold the phone shut. The bend test then left a permanent green line across the inner display, before the screen became unresponsive. here.Tapview chỉ hiển thị tiêu đề, trích đoạn ngắn, tóm tắt và đường dẫn tới bài gốc. Nội dung gốc thuộc bản quyền của MacRumors.
